MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：90
- 题名/责任者:
- 高速数字接口与光电测试/李凯著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022.01
- ISBN及定价:
- 978-7-302-59040-8/CNY178.00
- 载体形态项:
- 425页:图;26cm
- 个人责任者:
- 李凯 著
- 学科主题:
- 数字接口-接口技术
- 学科主题:
- 光电检测-测试技术
- 中图法分类号:
- TN919.5
- 中图法分类号:
- TN206
- 中图法分类号:
- TN919
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封面
- 责任者附注:
- 李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家。
- 提要文摘附注:
- 本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。
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