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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:60

题名/责任者:
X射线荧光光谱分析/吉昂等编著
出版发行项:
北京:科学出版社,2003
ISBN及定价:
7-03-010868-X/CNY29.00
载体形态项:
295页:表格;26cm
丛编项:
中国科学院研究生教学丛书
个人责任者:
吉昂 编著
学科主题:
X射线荧光光谱法-荧光分析
中图法分类号:
O657.34
中图法分类号:
O657
题名责任附注:
本书编者还有:陶光仪,卓尚军,罗立强
书目附注:
附书目
提要文摘附注:
本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用,以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基本校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
O657/4 10261064   理工阅览室(4楼) 图书定位    可借
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