MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：45
- 题名/责任者:
- 公差与技术测量/杨好学,蔡霞主编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2009
- ISBN及定价:
- 978-7-118-06232-8/CNY26.00
- 载体形态项:
- 224页;26cm
- 个人责任者:
- 杨好学 主编
- 个人责任者:
- 蔡霞 主编
- 学科主题:
- 技术测量-高等学校-教材
- 学科主题:
- 公差-配合-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TG801
- 一般附注:
- 普通高等教育“十一五”国家级规划教材
- 提要文摘附注:
- 本书采用最新的国家标准,介绍新国家标准的规定及应用。其内容包括:绪论,极与配合,测量技术基础,几何公差,表面粗糙度,普通结合件的互换性,典型零件的公差与测量。每章均有小结,还附有相关的公差表格、思考题与习题。
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