MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：37
- 题名/责任者:
- 半导体器件的可靠性:专集/中国科学技术文献出版社重庆分社编辑
- 出版发行项:
- 重庆:中国科学技术文献出版社重庆分所出版,1974
- ISBN及定价:
- /CNY1.05
- 载体形态项:
- 165页;26cm
- 编目员补充题名:
- 半导体器件的可靠性
- 团体责任者:
- 中国科学技术文献出版社重庆分社 编辑
- 学科主题:
- 半导体器件-可靠性试验 -- 文集
- 中图法分类号:
- TN306-53
- 中图法分类号:
- TN306
- 一般附注:
- 统一书号：151760.5
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