MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：24
- 题名/责任者:
- 抗辐射设计与辐射效应/沈自才, 丁义刚著
- 出版发行项:
- 北京:中国科学技术出版社,2015.05
- ISBN及定价:
- 978-7-5046-6738-0/CNY102.00
- 载体形态项:
- 343页:图;26cm
- 个人责任者:
- 沈自才 著
- 个人责任者:
- 丁义刚 著
- 学科主题:
- 辐射防护-设计-研究
- 中图法分类号:
- TL7
- 一般附注:
- 中国科协三峡科技出版资助计划
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书作者从辐射环境、辐射效应、辐射损伤机制、辐照试验、辐射屏蔽、抗辐射设计方法、辐射加固保证等方面对抗辐射设计所涉及的内容进行阐述, 对漆类材料、聚合物材料、光学材料、MOS工艺器件、二极管、双极晶体管、FPGA、CCD等典型材料与器件的辐射损伤机理和辐射效应数据进行梳理与总结。
全部MARC细节信息>>
理工阅览室（4楼）