MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：58
- 题名/责任者:
- 电子器件和集成电路单粒子效应/曹洲,安恒,高欣编著
- 出版发行项:
- 北京:北京理工大学出版社有限责任公司,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-5682-9656-4 精装/CNY138.00
- 载体形态项:
- 458页:图;24cm
- 丛编项:
- 空间科学与技术研究丛书
- 个人责任者:
- 曹洲 编著
- 个人责任者:
- 安恒 编著
- 个人责任者:
- 高欣 编著
- 学科主题:
- 电子器件-单粒子态-研究
- 学科主题:
- 集成电路-单粒子态-研究
- 中图法分类号:
- TN
- 中图法分类号:
- O571.24
- 一般附注:
- “十三五”国家重点出版物出版规划项目 国家出版基金项目 国之重器出版工程
- 责任者附注:
- 曹洲,研究员,理学博士。长期从事空间辐射效应及航天器抗辐射加固技术研究工作。负责完成了十多项预先研究项目及基金项目,获省部级科学技术进步二等奖和三等奖各一项。撰写多篇专题科学技术报告,参加了多次国内外学术交流及研讨会议,公开发表论文60余篇。
- 书目附注:
- 有书目和索引(第437-458页)
- 提要文摘附注:
- 本书系统阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理,试验测试的基础理论与方法,单粒子效应对电子系统的影响及防护设计的基本方法,空间单粒子翻转率计算方法及不确定性分析等方面内容。全书共分为7章,主要包括:诱发单粒子效应的空间辐射环境,介绍了能够诱发产生单粒子效应的几种空间辐射因素;辐射与半导体材料的相互作用,论述了重离子、质子及脉冲激光与半导体材料的相互作用过程等。
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理工阅览室（4楼）