MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：54
- 题名/责任者:
- 集成电路系统设计、验证与测试/(美) 谢弗( Louis Scheffer),拉瓦尼奥(Luciano Lavagno),马丁(Grant Martin)著 陈力颖,王猛译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-03-021490-4/CNY62.00
- 载体形态项:
- 475页:图;26cm
- 丛编项:
- 集成电路EDA技术
- 个人责任者:
- 谢弗 著
- 个人责任者:
- 拉瓦尼奥 著
- 个人责任者:
- 马丁 著
- 个人次要责任者:
- 陈力颖 译
- 个人次要责任者:
- 王猛 译
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN402
- 版本附注:
- 据CRC Press 2006年英文版译出
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封面
- 责任者附注:
- 责任者Scheffer、Lavagno和Martin规范中译姓: 谢弗, 拉瓦尼奥, 马丁
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 该书分为两卷，第一卷为《集成电路系统设计、验证与测试的电子设计自动化》，主要介绍有关集成电路系统前端的设计、验证和测试方法及其与电子设计自动化技术、工具之间的关系，重点讨论了逻辑设计、系统级设计、微架构设计以及验证工具和测试方法等。第二卷为《集成电路实现、电路设计与工艺技术的电子设计自动化》，主要介绍有关集成电路系统后端的实现、物理设计和制造技术及其与电子设计自动化技术、工具之间的关系，包括工艺模拟、器件模型以及版图设计参数提取等相关内容。
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