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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:47

题名/责任者:
电磁兼容测试技术/编著张厚, 唐宏, 尹应增
出版发行项:
西安:西北工业大学出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-5612-2452-6/CNY18.00
载体形态项:
152页:图;26cm
个人责任者:
张厚 编著
个人责任者:
唐宏 编著
个人责任者:
尹应增 编著
学科主题:
电磁兼容性-测试技术
中图法分类号:
TN03
提要文摘附注:
本书主要介绍电磁兼容测试技术的原理、方法、测试的理念和数据处理等内容。
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