MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：46
- 题名/责任者:
- 片上系统设计:design and test/(美) 里卡多(Ricardo,R) ... [等] 编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-03-018239-5/CNY45.00
- 载体形态项:
- 233页;24cm
- 并列正题名:
- Design of systems on a chip:design and test
- 其它题名:
- design and test
- 个人责任者:
- 里卡多 编著
- 学科主题:
- 集成电路-芯片-设计-英文
- 中图法分类号:
- TN402
- 一般附注:
- 国外电子信息精品著作
- 书目附注:
- 有索引
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面,尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。
全部MARC细节信息>>
理工阅览室（4楼）