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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:66

题名/责任者:
软件子系统测试/(美)Brian Marick著 韩柯等译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2003
ISBN及定价:
7-111-12794-3/CNY55.00
载体形态项:
472页;24cm
并列正题名:
The Craft of Software Testing
编目员补充题名:
软件子系统测试
丛编项:
软件工程技术丛书.测试系列
个人责任者:
Brian
个人责任者:
Marick
个人次要责任者:
韩柯
学科主题:
软件工具-测试
中图法分类号:
TP311.56
中图法分类号:
TP311.5
一般附注:
美国Pearson Education培生教育出版集团授权出版
提要文摘附注:
本书重点讨论了子系统测试方法,即不编写过多的桩函数和驱动程序,充分利用设计文档和源程序的一种测试;给出了子系统测试目标和分类等内容。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP311.5/157 10441990   密集书库(1楼) 146-11-6 图书定位    可借
TP311.5/157 10441989 127-5-7  密集书库(1楼) 图书定位    可借
TP311.5/157 10441991 127-5-7  密集书库(1楼) 图书定位    可借
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