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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：35

题名/责任者:
半导体的检测与分析/中国科学院半导 体研究所理化分析中心研究室著
出版发行项:
北京:科学出版社,1984
ISBN及定价:
/￥3.70
载体形态项:
636页;19cm
编目员补充题名:
半导体的检测与分析
丛编项:
实验物理学丛书
团体责任者:
中国科学院半导 著
团体责任者:
体研究所理化分析中心研究室 著
学科主题:
半导体材料
中图法分类号:
TN304.07
中图法分类号:
TN304
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN304/20 10046750 94-7-1  密集书库（1楼） 图书定位    可借
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