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• 000 01203nam0 2200301 450

• 001 0001048163

• 005 20221125005100.0

• 010 __ |a 978-7-302-59040-8 |d CNY178.00

• 100 __ |a 20220126d2022 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 高速数字接口与光电测试 |A gao su shu zi jie kou yu guang dian ce shi |f 李凯著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2022.01

• 215 __ |a 425页 |c 图 |d 26cm

• 312 __ |a 英文题名取自封面

• 314 __ |a 李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家。

• 330 __ |a 本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。

• 510 1_ |a High speed digital interface and photoelectric test |z eng

• 606 0_ |a 数字接口 |A shu zi jie kou |x 接口技术

• 606 0_ |a 光电检测 |A guang dian jian ce |x 测试技术

• 690 __ |a TN919.5 |v 5

• 690 __ |a TN206 |v 5

• 690 __ |a TN919 |v 5

• 701 _0 |a 李凯 |A li kai |4 著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20220126

• 905 __ |a JDZXY |d TN919/61